东北大学学报:自然科学版 ›› 2002, Vol. 23 ›› Issue (2): 156-159.DOI: 10.12068/j.issn.1005-3026.2002.02.015

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硅酸盐矿物表面特性的X射线光电子能谱分析

印万忠;孙传尧   

  1. 东北大学资源与土木工程学院;北京矿冶研究总院辽宁沈阳110004;北京100044
  • 收稿日期:2002-02-28 修回日期:2002-02-28 出版日期:2002-02-15 发布日期:2014-10-22
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  • 基金资助:
    国家自然科学基金资助项目(50074011)

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  • Received:2002-02-28 Revised:2002-02-28 Online:2002-02-15 Published:2014-10-22
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摘要: 利用X射线光电子能谱(XPS)分析了5类结构9种硅酸盐矿物表面的元素分布、价态及多价金属阳离子对于阴离子的相对密度,结合矿物的晶体化学特征和在阴离子捕收剂浮选体系中的可浮性的研究表明,矿物的结构特征与其表面元素质量分数、状态、表面电性及可浮性之间具有密切的关系·5类硅酸盐矿物由于结构特征的差异,导致解离后暴露于表面的元素质量分数、价态存在差异,进而导致矿物表面电性及与捕收剂结合的牢固程度不同,从而使各类结构矿物在阴离子捕收剂浮选体系中具有不同的浮选特征·较系统地研究了多种硅酸盐矿物浮选的晶体化学原理·

关键词: 硅酸盐矿物, X射线光电子能谱, 表面特性, 浮选, 捕收剂, 晶体化学

Abstract: -

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