东北大学学报:自然科学版 ›› 1986, Vol. 7 ›› Issue (2): 93-96.DOI: -

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N型硅压阻系数π_(11)与π_(12)之间关系的理论推导

李博   

  1. 东北工学院应用物理教研室
  • 收稿日期:1986-05-01 修回日期:1986-05-01 出版日期:1986-04-15 发布日期:2015-09-06
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  • Received:1986-05-01 Revised:1986-05-01 Online:1986-04-15 Published:2015-09-06
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摘要: 本文应用能带结构的多谷模型,对N型硅在[100]方向的压阻效应进行了理论分析。当沿N型硅晶体的[100]轴施加压力并分别在[100]和[010]方向加电场时所引起的电导率变化的主要原因是:电子在能谷之间转移时,电子的迁移率发生变化。由此推导出N型硅的纵向压阻系数π_(11)与横向阻压系π_(12)之间的关系是:π_(12)=-1/2π_(11)且π_(12)的符号是“正”,π_(11)的符号是“负”。这一结果与C.S.Smith的实验测量数据吻合。

关键词: 压阻系数, N型硅, 压阻效应

Abstract: -

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