东北大学学报(自然科学版) ›› 2012, Vol. 33 ›› Issue (1): 77-80+85.DOI: -
秦高梧;肖娜;李松;任玉平;
Qin, Gao-Wu (1); Xiao, Na (2); Li, Song (1); Ren, Yu-Ping (1)
摘要: 利用磁控溅射在250℃的MgO(220)单晶基片上先后沉积Cr(100 nm)下底层和不同厚度(9~80 nm)的Co-11%W(原子分数)磁性层,二者取向附生生长关系为Cr(112)[111]∥Co-W(1010)[1210]和Cr(112)[110]∥Co-W(1010)[0001].随着膜厚的增加,Co-W在薄膜面内的压应变(ε<0)由-0.388 4%减小到-0.271 1%,Co-W在薄膜法线方向拉应变(ε>0)从0.781 3%减小到0.544 5%,相应地其有效磁晶各向异性能一级常数Ke1ff由3.82×106减小到2.58×106erg/cc.该结果表明通过设计磁性层和下底层之...
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