东北大学学报:自然科学版 ›› 2016, Vol. 37 ›› Issue (5): 647-652.DOI: 10.12068/j.issn.1005-3026.2016.05.009
陈守东1, 刘相华1, 刘立忠2, 孙祥坤1
CHEN Shou-dong1, LIU Xiang-hua1, LIU Li-zhong2, SUN Xiang-kun1
摘要: 为了定量描述厚度尺寸对极薄带轧制微观变形不均匀性的影响,采用率相关晶体塑性理论和Voronoi图的多晶模型,考虑试样尺寸,晶体取向及其分布,模拟了不同厚度铜箔在相同压下率条件下的变形行为,得到了在细观尺度上铜箔的微观应力应变和滑移系分布.模拟获得的应力-应变曲线和实验测得的曲线基本一致.通过对20%压下率不同厚度铜箔的轧制变形的研究表明,无论是在晶粒内部还是在晶粒间,材料变形都非常不均匀,主要是由在铜箔厚度方向上只有一层晶粒时,晶粒尺寸、形貌和取向的不均匀分布,近邻晶粒取向差以及滑移系启动特性所引起的.
中图分类号: